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了解MOSFET时刻相关及能量相关输出电容Coss(tr)和Coss(er)

Understanding time-related and energy-related output capacitances Coss(tr) and Coss(er)刘松(万国半导体元件(深圳

Understanding time-related and energy-related output capacitances Coss(tr) and Coss(er)

刘松
(万国半导体元件(深圳)有限公司,上海 静安 200070)

      摘要:本文论说了功率MOSFET数据表中静态输出电容Coss、时刻相关输出电容Coss(tr)和能量相关输出电容Coss(er)的具体界说以及丈量的办法,特别阐明晰在实践的不同运用中,选用不同的输出电容的原因。谐振变换器有必要选用时刻相关输出电容Coss(tr)来核算死区时刻,硬开关变换器有必要选用能量相关输出电容Coss(er)来核算开关损耗
       关键词:输出电容;死区时刻开关损耗超结

  0 导言

  功率MOSFET的数据表中,有些产品如超结的高压功率MOSFET一般会列出输出电容的三个特征值:静态输出电容Coss、时刻相关输出电容Coss(tr)和能量相关输出电容Coss(er),而低压和中压的产品以及平面的高压MOSFET很少列出后边的二个电容值,这首要和不同工艺的MOSFET的结构和电容特性有关。许多研制的工程师并不了解这些电容的实践意义,因而在实践的运用中也不清楚在什么的条件下挑选哪一个电容值,本文将具体的阐明这些问题。
  1 静态输出电容Coss

  数据表1中列出的静态输出电容Coss一般是在一个固定的偏置电压下的测验值,一起数据表还会列出Coss随V DS 电压改变的曲线如图1所示。从曲线能够看到,跟着偏置电压V DS 的添加,Coss会逐步的下降。
  超结结构的高压功率MOSFET,Coss会急剧的下降到一个值,然后再缓慢的下降。Crss会急剧的下降到一个最小值,然后再缓慢的添加,如图2,表2所示。

  静态电容的测验电路所图3所示,低压和平面结构的功率MOSFET在0 V偏置电压条件下,Coss比额外高偏置电压下的容值大数倍或数十倍,而关于超结结构的高压MOSFET,要大数百倍。
  如:AON6162,Coss(0 V)/Coss(30 V)=3.2;,Coss(0 V)/Coss(400 V)=500。超结结构Coss和Crss的这种特性,会带来许多运用的问题[1]

  静态电容的测验条件:VGS=0 V,不同的产品设定的VDS偏置电压不相同,一般是50%或80%的BVDSS,不同的公司,产品测验时运用的频率也不相同,常用的测验频率有:250 KHz、1 MHz或4 MHz。电路中,CK的取值为1 μF、2 μF或其它值。二个串联电阻取值为1 M、620 K或其它值。80%×BVDSS的Coss静态电容,便是偏置电压VDS=80%×BVDSS时,Coss的电容值。
  2 时刻相关输出电容Coss(tr)
  时刻相关输出电容Coss(tr)是指偏置电压从0上升至80%的BVDSS时,在充电时刻相同的条件下,折算成一个等效的固定电容值,其意义和80%×BVDSS的Coss静态电容具有不同的值、不同的意义。一般,80%×BVDSS是一个常用的测验条件。
  测验电路如图4所示,测验的器材为Q2,假如Q2的BVDSS=500 V,当Q1加驱动电压,Q1注册,电源VDD经过R对Q2充电,经过示波器丈量的波形,能够读出VDS电压从0上升到400 V所对应的时刻tc:

  若R=100 kΩ,折算成时刻相关等效电容Coss(tr)为:

  是一个等效电容,没有考虑电容随电压改变的进程,只考虑前后全体的等效时刻,在一些谐振变换器的电源结构中,如LLC变换器,用这个电容值核算上、下桥臂所需求的死区时刻,比数据表中静态的Coss更精确。时刻相关的输出电容值有些公司会用Coss(eff)来表明。实践作业的电压改变的时分,这个等效的电容值也不会相同。

  3 能量相关输出电容Coss(er)
  MOSFET的Coss会发生开关损耗,在正常的硬开关进程中,关断时VDS的电压上升,电流ID对Coss充电,贮存能量;在MOSFET注册的进程中,因为VDS具有必定的电压,那么Coss中贮存的能量将会经过MOSFET放电,发生损耗。
  一些低输入电压的运用,如笔记本电脑主板的Buck变换器输入电压为19 V,通讯体系板极Buck变换器输入电压为12 V,因为作业电压比较低、作业频率高,Coss发生的损耗较小,相关于跨过线性区发生的开关损耗一般能够忽略不计,因而在低压功率MOSFET的数据表中,一般不会列出Eoss。
  常用的AC-DC变换器如Flyback结构的电源体系,输入的电压规模为100 VDC~380 VDC,乃至更高的输入电压,Coss发生的损耗所占的份额非常大,乃至成为主导要素,因而在高压功率MOSFET的数据表中,列出Eoss的值。现在有些中压的功率MOSFET的数据表中也列出了Eoss的值。
  许多资猜中,理论的Coss放电发生的损耗为:

1.png

  从上式能够看到,Coss放电发生的损耗和容值、频率成正比,和电压的平方成正比。在功率的数据表中,Coss对应发生的功耗便是Eoss[2-4]
  因为功率MOSFET的电容特性对错线性的,Coss容值会跟着VDS电压改变,依据Coss的Eoss也对错线性的,因而,直接运用上述传统电容储能的公式核算电容的放电损耗是不正确的。特别是超结结构的高压MOSFET,在不同的电压下,输出电容改变的规模非常大,因而就有必要要界说能量相关输出电容,办法如下。
  (1)对Coss的曲线积分,能够得到Qoss:

1.png

  如图5所示,VDS为30 V时对应的Qoss便是图中Coss曲线、水平X轴、VDS=30 V笔直线和笔直Y轴所围住的面积。在不同的电压下得到不同的Qoss,就能够作出Qoss-VDS曲线。
  (2)那么可否依据Qoss-VDS的曲线,再对Qoss积分,就能够得到Eoss呢?

1.png

1.png

  公式中的电容Coss随VDS电压改变,不同的电压下容值不同,因而不能直接运用上面积分的办法来核算Eoss。
  考虑到电容Coss随VDS电压改变,为了核算VDS-Eoss曲线,能够运用数值法,进行工程上的预算:VDS电压从0开端,运用小的电压增幅距离,例如:0 V、0.5 V、1 V、1.5 V、2 V、2.5 V、3 V、3.5 V、⋯⋯、60 V,在不同的电压下能够得到相应的电容值。当电压从VDS(n)添加到VDS(n+1)时,例如从1 V添加到1.5 V,添加的Qoss能够由下式核算:

  添加的能量由下式核算:

  因而,V DS(n+1) 对应的能量为:

1.png

  上述数值办法中运用的步长越小,所得到的成果越精确。运用上述办法,核算得到AON6162的VDS-Eoss曲线如图6所示,运用相同办法,能够得到IPP60R04C7的VDS-Eoss曲线,如图7所示。
  能量相关输出电容Coss(er)是指偏置电压从0上升至80%的BVDSS时,在贮存的能量持平的条件下,折算成一个等效的固定电容值,依据Eoss曲线,BVDSS=500 V,查出VDS=400 V的Eoss(400 V),然后运用下面公式就能够得到这个电容值:

1.png

  不同产品的数据表运用的标示电压条件并不同,有些运用80%×BVDSS,有些运用60%×BVDSS,因而,能量相关输出电容仅仅在相应的电压条件下的等效值。实践运用的时分,要依据实践的作业电压,折算成对应的电容值,若仅仅核算损耗,就直接运用Eoss曲线查出对应的损耗值。
  高压超结结构的功率MOSFET的Coss改变非常大,0 V偏置电压条件下的Coss比80%×BVDSS偏置电压下的容值大数百倍。运用0 V偏置电压条件下的静态电容Coss核算开关损耗,会远远大于实践发生的开关损耗;而运用80%×BVDSS偏置电压条件下的静态电容Coss核算开关损耗,会远远小于实践发生的开关损耗,因而就要用能量相关输出电容Coss(er)来核算开关损耗,在硬开关电源结构中,所得到的成果更为精确。相同的,实践作业的电压改变的时分,这个等效的电容值也不会相同,所发生的开关损耗也不相同。
  4 定论

  (1)功率MOSFET的静态输出电容Coss是在必定的偏置电压VDS条件下的输出电容值。
  (2)时刻相关输出电容Coss(tr)是在必定的偏置电压VDS条件下,时刻等效的输出电容值,在一些谐振变换器的电源结构如LLC变换器,用这个电容值核算死区时刻更精确。
  (3)能量相关输出电容Coss(er)是在必定的偏置电压VDS条件下,能量等效的输出电容值,特别是超结结构的高压功率MOSFEET,在硬开关的运用中,运用这个值核算输出电容发生的开关损耗更为精确。
  (4)静态输出电容Coss、时刻相关输出电容以及能量相关输出电容Coss(er)都和偏置电压VDS相关,跟着VDS的改变而改变,运用中要依据实践的电压来进行折算。

  参考文献
  [1] 刘松,张龙等,超结型高压功率MOSFET结构作业原理,今天电子:2013.11(243):30-31
  [2] 刘松,了解功率MOSFET的开关损耗,今天电子:2009.10:52-55
  [3] 刘松,通讯体系中超高功率Buck变换器规划考虑,今天电子:2009.02:70-71
  [4] 刘松,功率MOSFET运用问题剖析根底篇,今天电子:2014.12(256):43-46
  作者简介:
  刘松,硕士,现任职于万国半导体元件(深圳)有限公司运用总监,首要研讨方向:开关电源、电力电子以及功率元件的运用和研讨作业,曾取得广东省科技进步二等奖一项,在各类学术期刊上宣布学术论文60余篇。

本文来源于科技期刊《电子产品世界》2019年第4期第62页,欢迎您写论文时引证,并注明出处

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