1、使用前锋脉冲数据收集模拟程序对完结板进行测验，
其间测验管脚的信号为：周期为2.4S 高电平时刻为0.3s
设置AD时：P6SEL |= 0x08;
ADC12CTL0 = ADC12ON+MSC+REFON+REF2_5V + SHT0_8;
ADC12CTL1 = SHP + CONSEQ_2 + ADC12SSEL_3 +ADC12DIV_7;
ADC12MCTL0 = SREF_1 + INCH_3;
ADC12IE = 0X01;
ADC12CTL0 |= ENC;
ADC12CTL0 |= ADC12SC;
即选用第3通道，选用SMCLK（DCO） 并对其进行8分频，SHT0_8（256）选用内部参阅电压2.5v
测验1，依据DCO进行的测验
通过实践测验：
周期：869 高电平：108 占空比：108/869 = 0.124
周期：870 高电平：109 占空比：109/870 = 0.125
规范：300/2400 = 0.125
理论剖析：初始DCO为800K，8分频为：100K,周期为：10us
而转化一个数需求的周期数据为256+13+3=272个ADC12CLK ,
SO 转化一个数的时刻为2.72ms
综上，2.4s内能完结2400/2.72=882.35个数的转化，与实测的870根本符合。
若不考虑Tsync:则转化一个数需求的周期数据为256+13=269个ADC12CLK ,
SO 转化一个数的时刻为2690ms
然后2.4S内能完结2400/2.69 = 892 (与实测的相差大)
测验2，依据外部8MHz晶体进行的测验
设置AD时：
BCSCTL1 &= ~XT2OFF; // 翻开XT2高频晶体振荡器
do
{
IFG1 &= ~OFIFG; //铲除晶振失利标志
for (i = 0xFF; i > 0; i–); // 等候8MHz晶体起振
}
while ((IFG1 & OFIFG)); // 晶振失效标志依然存在？
BCSCTL2 = SELM_2+DIVM_3; //select XT2，并对其进行8分频，然后供应MCLK;
ADC12CTL0 = ADC12ON+MSC+REFON+REF2_5V + SHT0_8; // Turn on ADC12, extend sampling timeSHT0_8
ADC12CTL1 = SHP + CONSEQ_2 + ADC12SSEL_2 +ADC12DIV_7;// Use sampling timer, repeated sequence,并对ADC时钟进行8分频
ADC12MCTL0 = SREF_1 + INCH_3;
ADC12IE = 0X01;
ADC12CTL0 |= ENC; // Enable conversions
ADC12CTL0 |= ADC12SC; // Start conversion
理论剖析：
初始XT2为8MHz 8分频为1MHz ,再对其进行8分频为125KHz 所以ADC12CLK的周期为8us
so 转化一个数的时刻为：（256+3+13）* 8 = 2.176ms
SO 2.4S的周期能转化2400/2.176=1102.9 也即1102个数
若不考虑Tsync 则转化一个数的时刻为：（256+13）* 8 = 2.152ms
SO 2.4S的周期能转化2400/2.152=1115.2 也即1115个，与实践测验仅差一个数。
实践测验：
周期：1114 高电平：139 占空比：139/1114 = 0.12477
规范：300/2400 = 0.125
2、把周期为2.4ms 高电平为300ms的脉冲信号加到另一块板子上
另一块板子选用DCO800k ,其他设置参数同上 其测验成果是：
周期：801 高电平：100 占空比：100/801 =0.1248
周期：799 高电平：99 占空比：99/799 = 0.1239
规范：300/2400 = 0.125
另一块板子选用XT2=6MHz时的测验成果：
周期：836 高电平： 104 占空比：104/836 = 0.1244
周期：836 高电平： 104 占空比：104/836 = 0.1244 能够看出（使用外部晶体重复性好）
规范：300/2400 = 0.125
理论剖析：
初始XT2为6MHz 8分频为750KHz ,再对其进行8分频为93.75KHz 所以ADC12CLK的周期为10.7us
so 转化一个数的时刻为：（256+3+13）* 10.7 = 2.91ms
SO 2.4S的周期能转化2400/2.91=824.7 也即824个数 {与实践测验的836根本相符}
若不考虑Tsync 则 2.4S的周期能转化2400/（269*10.67）=836.2 也即836 与实践测验彻底相符
总结：就以上测验剖析，可知，根本到达要求，但对DCO来说，稍有偏移，
依据DATASHEET：采样的总时刻为Tsample +Tsync 但假如，不考虑Tsync,则对上面的选用外部晶体收集数据时
理论与实践彻底相符。
但对DCO就不同，而且DCO,对不同的板子，尽管占空比相同，但收集数据个数也有很大的不同。这可能与DCO自身,所以为了把2.4S内的数据都收集到，应该取较大的采样数据。
随温度及环境而改变有关。
