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由于山寨品的高水准和现在的ECU（电子操控单元）设备的复杂性的存在，这就需求一些特别的测验办法。测验体系过错的办法不是什么新颖的说法，它是ECU验证的一个重要的部分和体系电气毛病的重要办法（毛病注入测验）。它是一个能够仿照许多景象，如由于腐蚀，短/开路和其他的由于运用时间过长引起的电气毛病，损坏或许是过错的设备的测验计划。
图1运用插线面板来进行毛病注入测验
一般来说，开发中的ECU都会经过一个测验体系来进行仿真，直到它能够进行操控，这有时分也叫做硬件在环仿真（HIL）。仿真设备用来仿真设备的行为，比如说，手动衔接和操控或许是用电脑中的核算器材捕捉ECU的模仿和数字反应信号。当它需求注入毛病的时分，像图1所示的运用接线板的做法是比较常见的。
可是这就需求许多许多条接线用来衔接到ECU的输入输出口到仿真或许是核算设备。输入输出口或许需求手动地断开来模仿一个开路或许是衔接在一起来模仿短路，然后得到核算成果。这种类型的解决计划具有许多固有的缺陷，不仅仅是体积巨细的问题。也有许多潜在的损耗，像继续的维护费用，这就需求一个具有丰厚的专业知识的操作员，还有潜在的人员操作过错和额定的进行测验和记载成果的相关人员的费用。
任何手动操作计划的另一个首要缺陷是缺少了重复测验的才能，这是在测验体系中很需求的进行快速从头创立毛病测验的才能，乃至是开发和采纳纠正办法也有很有约束的。在任何的经过晋级或许校验过的程序中的一个首要的长处是能够快速地创立测验的才能。
在设备的东西途径信号和注入实时电气毛病的软件操控才能，使得测验进程和成果的记载变得便利。一个规范矩阵的交叉点具有一个支撑被测设备的东西途径信号和带有特别的开关结构的毛病注入的才能。
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模块毛病注入解决计划
Pickering供给了一系列的PXI毛病注入开关单元产品，这些可晋级的解决计划能够在硬件环仿真(HIL)体系中，仿真和实在日子中的设备的开关信号。毛病注入单元（FIU）有助于简化验证和加速测验的速度，还有确诊和在HIL运用中进行体系集成。以下是一些较为常见的毛病注入架构（这是根据咱们的FIU毛病注入单元的实例）。
图2单毛病总线架构
在图2中显现的架构运用的是咱们的毛病注入单元（40-195和40-196）。在这两个输入衔接是成对的，然后组合的一对（开关）也被衔接了，这就完成了一个单个总线毛病。运用这个架构，能够在以下的办法中完成仿真一系列的毛病：
- 任何一个与它的输出端断开的输入
- 输入端的衔接对被短路
- 任何一个输入端衔接到毛病总线上
这个毛病总线可能是一个电源，体系的地线或许是其他的一些在体系中的衔接。假如需求仿真超越一个的毛病总线的话，外部的开关有必要要用来进行扩展，或许是用到其他的不同的架构。
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多路复用毛病总线架构
这个在图3中显现的架构，供给了一个愈加灵敏的计划，一起用到的是咱们的更多的毛病注入模块。用这个架构能够完成许多种毛病的仿真：
- 与输出端断开的任何输入端
- 任何被衔接到一两个毛病总线的输出端
- 在毛病总线断开的时分，输出端跟其他的输出端短路
在这个架构中，运用的是咱们的40-190系列的毛病注入模块，毛病总线将会被断开或许是衔接到四个毛病状况中的任何一个，这就总线衔接到地线，电源或许是其他的一些当地。由于衔接是经过单刀单掷的开关来设置的，这就答应毛病总线被断开，一起也答应在相邻的两个继电器中的两个信号短路。
