本规划实例共享一种电路测验器，能够夹在每颗PROM上进行测验，不必将PROM从电路板上拔下。
处理老旧技能会带来风趣的应战;尽管现代的可程式化元件透过JTAG或SPI介面很简略完成电路测验(tested in circuit，或称“线上测验”)，但测验较老的元件就没这么方便了。
我从事的是一个大型有线数位电话交流体系的保护作业;这些体系最早是在1980年代初期规划的，但现在在美国各地仍能看到这些体系供给服务，因而需求常常保护和修补。其间，常常需求修理的板卡是消息发生卡(tone generation card)，担任发生电话体系中用到的一切声消息号，比方铃声、忙线音、双音多频信号(DTMF)和多频(MF)信号音。
这些声响的发生是透过将数位化的声响片段组合成完好的复合音;这片消息发生卡上共有6颗选用24pin DIP封装的旧式1k×8可程式唯读记忆体(PROM)，声响片段就贮存在这些PROM内。这片板卡最常见的问题，是其间一颗PROM上的某个单元呈现毛病，但由于电路装备的原因，除非从板子上把PROM拔下来然后用编程器一颗颗读，底子无法得知道是那一颗毛病。
还好这些PROM都是插在板子上，比较简略拔;但毕竟现已待在原位许多年，有时也不太简略移动;无论如何，损坏杰出PROM的危险很高，并且移除、测验和替换的作业非常繁琐耗时。本规划实例共享一种电路测验器，能够夹在每颗PROM上进行测验，不必将PROM从电路板上拔下;PCB板上有一个测验点(test point)，它能够禁用PROM的位址驱动器(address driver)，所以其接取彻底受测验电路操控。
只需将该测验点接地，测验器就能够顺次安装到每颗PROM上;该测验器上有一颗PIC16F887微操控器，透过核算纵向查看总和(longitudinal checksum)验证PROM，将核算出来的查看总和与6个已知的正确查看总和值进行比对。
假如能匹配，6颗绿色LED灯中的一颗就会点亮，显现发现一颗杰出PROM并做为辨识(这是很有用的，我就从前插错失PROM);假如查看总和都不匹配，则是会点亮赤色LED灯，显现测验器衔接的是一颗毛病/无法辨认的PROM。
该测验器的电路是用Diptrace规划的，软体码则是用Microchip的MPLABX开发。
测验器PCB衔接到一个24接脚的DIP测验夹具;测验夹的一排接脚以穿透方法刺进电路板，另一排接脚则以电线衔接电路板，因而能够用揉捏方法打开。电路在测验中从电路板罗致店员，也能够透过6脚插头(header)衔接到5V电源，用以测验平台上松懈摆放的PROM。
测验器的电路很简略…
