根据33CX201的可控硅快速测试仪电路图

如图所示为可控硅快速测验电路，主要由555组成。该测验仪由脉冲信号发生器、闭合导通环路、发光二极管、可控硅SCR等组成。插上可控硅SCR，当按下按钮AN后，在555输出高电平时，发光二极管LED1、电阻R4、可控硅SCR、晶体管BG2构成闭合回路，发光管LED1发光；当555输出低电平时，LED2、R4、SCR、BG1构成闭合回路，发光管LED2发光，阐明可控硅是好的。在测验时插上可控硅SCR后，发光管LED1、LED2应不亮，不然阐明T1、T2的南北极已短接。多谐振动器，其振动频率为f=1.44/(R1+2R2)C。图示参数对应的振动频率约为1Hz。因为R1<电容C充电所对应的时刻t充=0.693(R1+R2)C，与电容C放电所对应的时刻t放=0.693R2C非常挨近，所以脉冲发生器输出脉冲的占空比挨近1:1。