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COB光源温度散布与丈量

灯具制作商在设计COB光源灯具时,常用热电偶测量光源发光面温度,这种测量方法会使测量结果明显偏高,继而对COB光源的可靠性有所疑虑。COB光源发光面温度偏高,一方面是由光源具有高光通量密度输出,荧光胶

灯具制造商在规划COB光源灯具时,常用热电偶丈量光源发光面温度,这种丈量方法会使丈量成果显着偏高,继而对COB光源的可靠性有所疑虑。

  COB光源发光面温度偏高,一方面是由光源具有高光通量密度输出,荧光胶吸光转成热形成的;另一方面则是发光面的温度不适合选用热电偶进行触摸丈量。

  一、引 言

  COB(Chip-on-Board)封装技能因其具有热阻低、光通量密度高、色容差小、拼装工序少等优势,在业界遭到越来越多的重视。COB封装技能已在IC集成电路中运用多年,但关于广阔的灯具制造商和顾客,LED光源选用COB封装仍是新颖的技能。

  LED产品的可靠性与光源的温度密切相关,因为COB光源选用多颗芯片高密度封装,其温度散布、丈量与SMD光源有显着不同。本文将介绍COB光源的温度散布特色与其内涵机理,并对常用的温度丈量方法进行比较。

  二、COB光源的温度散布

  COB封装便是将芯片直接贴装到光源的基板上,运用时COB光源与热沉直接相连,无需进行SMT外表拼装。SMD封装则先将芯片贴装在支架上成为一个器材,运用时需将器材贴装到基板上再与热沉衔接。两者的热阻结构示意图如图1所示,相关于SMD器材,COB热阻比SMD在运用时少了支架层热阻与焊料层热阻,芯片的热量更简单传递到热沉。

图1:热阻结构示意图

  1、常用温度丈量方法比较

  常用的温度传感器类型有热电偶、热电阻、红外辐射器等。热电偶是由两条不同的金属线组成,一端结合在一起,该衔接点处的温度改变会引起别的两头之间的电压改变,经过丈量电压即可反推出温度。热电阻运用资料的电阻随资料的温度改变的机理,经过间接丈量电阻计算出温度。

  红外传感器经过丈量资料发射出的辐射能量进行温度丈量,三者的首要特征如表1所示。

表1:温度丈量方法比照

  热电偶本钱低价,在测温范畴中最为广泛,探头的体积越小,对温度越活络,IEC60598要求热电偶探头涂上高反射资料削减光对温度丈量的影响。但假如将热电偶直接贴在发光面上进行丈量,探头吸光转化成热的作用非常显着,会导致丈量值偏高。

  实践丈量中有不少技能人员习惯用高温胶带进行探头固定,如图2所示。这种粘接会加重这种吸光转热效应,导致丈量值严峻偏高,误差可达50℃以上。

图2:过错的温度丈量方法

  因而,为防止光对热电偶的影响,主张运用红外热成像仪进行温度丈量,红外热成像仪除具有呼应时刻快、非触摸、无需断电、快速扫描等长处,还能够实时显现待测物体的温度散布。红外测温原理是基于斯特藩—玻耳兹曼定理,可用以下公式表明。

  其间P(T)为辐射能量,σ为斯特藩—玻耳兹曼常量,ε为发射率,红外测温的准确与待测资料的发射率密切相关,因为COB光源外表的大部分资料发射率是不知道的,为了精准测温,可将光源放置在恒温加热台上,待光源加热到一个已知温度处于热平衡状况后,用红外热成像仪丈量物体外表温度,再调整资料的发射率,使其温度显现为正确温度。

  2、发光面温度实测

  为进一步从实验上研讨COB光源的热散布,选用我司14年主推的一款定型产品作为实验研讨目标,该款光源选用是的高反射率镜面铝为基板,这种封装结构一方面可大幅提高出光功率,另一方面封装方式选用热电别离的方式,没有一般铝基板的绝缘层作为阻挠,可进一步降低热阻和结温,完成COB光源高光通量密度输出。

图3:待测镜面铝COB光源外观

  本次待测样品除了荧光胶的配比不同,其他资料均相同,待测样品的色彩分别为蓝色、2700K和6500K。三款样品的红外热成像成果参见图3(a)、(b)和(c)。

图4:样品红外热成像图

  从图中能够看到,蓝色样品的发光面最高温度为93.6℃,2700K的发光面最高温度为124.5℃、6500K的发光面最高温度为107.8℃。温度的差异可如下解说,白光是由芯片发生的蓝光激起荧光粉混成白光,在蓝光激起荧光粉的进程中,荧光粉和硅胶会吸收一部分光转化成热,经过丈量可知蓝色样品的光电转化功率为41.6%,2700K样品为32.2%,6500K为38.5%,2700K样品的光电转化功率最低,首要原因是2700K样品的荧光粉运用量多于6500K,在蓝光激起荧光粉进程中有更多蓝光转化成热量,相关参数参阅表2。

表2:样品光电参数

  3、COB光源的热散布机理

  从上节的测温实例中可知,COB光源的胶体温度最高可达125℃,而现在大部分芯片能接受的最高结温不能超越125℃,许多灯具厂商以为发光面的温度超越125℃,芯片的温度应该会更高,继而忧虑COB光源的可靠性。

  针对这个问题,芬兰国家技能研讨中心的研讨人员Eveliina Juntunen等在IEEE杂志《Components, Packaging and Manufacturing Technology》2013年7月份的期刊上宣布了一篇名为“Effect of Phosphor Encapsulant on the Thermal Resistance of a High-Power COB LED Module”专业文章,该文章对COB光源的温度散布和内涵机理做了深化的研讨。

图5:COB光源的内部温度散布

  图5是该文依据实验数据并结合仿真得出的,从图中能够看到,荧光胶的温度可达186℃,但芯片温度只要49.5℃。芯片的温度较低是因为芯片直接贴装到铝基板上方,芯片的热量可经过基板快速传递到散热器上,因而COB光源的芯片温度远低于芯片答应的最高结温。

  荧光胶的温度高于芯片温度是因为COB光源的芯片数量和摆放密度高于比一般的SMD器材,经过荧光胶的光能量密度显着高于SMD器材,荧光粉和硅胶都会吸收一部分的蓝光转化成热,加上硅胶热容与热导率较小,导致荧光胶的温度急剧上升,因而COB光源作业时荧光胶的温度会远高于芯片温度。

  小结

  COB光源在封装上选用的是将芯片直接贴装到基板上方,热阻较SMD器材要小,有利于芯片散热,实践作业中芯片的结温远低于芯片答应的最高结温。因为光源选用多芯片排布,可在较小发光面完成高流明密度输出。

  光源作业时,荧光粉和硅胶会吸收一部分光转化成热,高光通量密度输出会导致发光面热量较为会集,导致发光面的温度较高。假如选用热电偶直接丈量发光面的温度,热电偶的探头也会吸光转化成热,使温度丈量值偏高。

  因而为有用研讨COB光源外表的热散布,主张选用红外热成像仪进行非触摸丈量。因为COB光源发光面的温度高于一般SMD器材,因而在封装工艺和资料挑选上较SMD器材苛刻,特别对荧光粉和硅胶的耐温性提出了更高的要求。

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