根据高速AD的激光扫描高频信号幅值丈量体系规划

Z扫描是一种应用于光学非线性测量的方法,使用这种方法可以测量光学材料非线性折射率的大小、正负以及非线性吸收系数。因为通过光学材料的

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一种根据高速并行A/D转化的激光z扫描的 高频窄脉冲信号幅值丈量体系的规划

O 引 言Z扫描是一种应用于光学非线性测量的方法,使用这种方法可以测量光学材料非线性折射率的大小、正负以及非线性吸收系数。因为通过光学材料

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