0引言金属磁记忆检测技术自提出后一直具有良好的应用前景，但其理论研究的不足是制约该技术应用和发展的一大瓶颈，现有的理论研究认为，铁磁材料结构表层的隐性缺陷会产生法向磁场分量过零值点，使得切向磁场分量取