设计了一种基于FPGA的边界扫描测试向量发生器，该发生器可以为边界扫描故障诊断系统提供测试向量，并可计算测试向量的故障覆盖率。与以往通过软件提供测试向量的方法相比，该设计在速度和效率上有了较大提高。
由于低温沉积、薄膜纯度以及绝佳覆盖率等固有优点，ALD（原子层淀积）技术早从21世纪初即开始应用于半导体加工制造。DRAM电容的高k介电质沉积率先采用此技术，但近来ALD在其它半导体工艺领域也已发展出
LCD色彩覆盖率是什么，LCD荧光粉选型须知,LCD鉴定真伪的几条小妙招-可能对于保点、售后这些选购基本常识您早已了如指掌，但是，在我们走访卖场以及对产品进行评测的时候发现，还有一些难以察觉，但又切实
如今，所有的工业制造商，无论规模大小，都在升级生产设施、制造能力和工程服务，向工业4.0概念或智能工业转型。目前有许多技术可以促进这种转型，使工作环境变得更安全，网络安全性和覆盖率更高，提高能源利用率
通过嵌入式软件实现路径覆盖测试的设计方案研究-路径覆盖测试是覆盖测试中的关键测试技术之一，目前已应用于程序覆盖率分析、测试用例设计、程序调试、性能优化等多个方面，是覆盖程度最高的测试。其基本原理是用最少的测试用例，覆盖程序中的所有路径，发现程序中最多的错误，安排测试计划、分配测试资源，并对实际测试所达到的覆盖率做出评估。本文给出了路径覆盖相关理论，并在理论研究的基础上设计出了一种嵌入式软件动态测试系统框架，完成对被测程序的路径覆盖率分析，进而判断测试的充分性及弱点，从而进一步改进测试过程。
