ORTEC带电粒子硅探测器主要有金硅面垒和离子注入两种工艺，耗尽层厚度从10微米到几个毫米厚不等。而依据其几许形状与是否全耗尽又分为许多类型。
挑选适宜的带电粒子探测器，除运用本身外，应归纳权衡耗尽层厚度、结电容、漏电流、电子噪声、能量分辨率等功能指标。
Alpha能谱丈量
用于alpha能谱丈量的ULTRA和ULTRA-AS探测器采用了外表钝化和离子注入工艺（即PIPS探测器），这两个系列的探测器有许多长处：
触摸极更薄，更巩固；
低噪声，对Alpha能谱分辨率好；
运用边际钝化技能，可以使样品离探测器入射窗小到1毫米（一般面垒型探测器最小只能到达2.5毫米），探测器功率更高
常温运用
探测器窗可擦洗
Ultra-AS和Ultra的差异或改善是采用了低本底资料，以专适于在ORTEC Alpha Suite谱仪。
ULTRA-CAM系列则是针对气溶胶接连监测规划，探测器具有特别密闭和抗潮功能。
Beta能谱丈量
Beta能谱丈量的难处在于常温状态下，硅探测器很难取得杰出的分辨率，ORTEC供给以下两种解决方案：
Beta-X Si（Li）一体化探测器（包括探头，冷指前放）；
A和L系列可制冷的厚硅探测器。
带电粒子探测器的挑选
带电粒子探测器在核物理试验中许多方面的运用，ORTEC在其探测器类型上都有相应的偏重：
比方重离子因为其高度电离和短径迹特性，需求探测器在前触摸级具有强电场，适用的F系列探测器在前触摸级的场强为20,000V/cm。
而对带电粒子的时刻谱丈量，需求用ULTRA系列或能接受超电压的强电场部分耗尽探测器。
