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KC-1型可控硅测试仪简介

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KC-1型可控硅测试仪简介
。一、概述:
。 KC-1型可控硅测试仪,是一种新颖的全数


KC-1型可控硅测验仪简介


。一、概述:


。 KC-1型可控硅测验仪,是一种新颖的全数字显现式多功能可控硅参数测验设备,它能够丈量各种巨细


功率的单双向可控硅(晶闸管),小至TO-92、TO-126、TO-220、TO-3P等封装的单双向可控硅,大至


1000A 的平板型可控硅、螺栓型可控硅和各种组合模块,能够丈量触发电流IGT、触发电压VGT、断态不重


复峰值电压VDSM、反向不重复峰值电压VRSM等可控硅首要参数,该仪器首要用于可控硅运用厂家对可控硅


元件的质量检验、参数的配对、可控硅设备的修理之用。仪器还能够用于其它电子元器材的高低压耐压测


试,如:大中小功率的二极管、三极管、场效应管的耐压,压敏电阻的电压值,触发二极管的转机电压等。


。二、首要使用规模:


1、能够丈量0.5A-1000A 以下的单双向可控硅及各种可控硅模块的IGT、VGT、VDSM、VRSM 。


2、能够丈量可控硅专用的双向触发二极管的转机电压。


3、能够丈量各种巨细功率的二极管、三极管、稳压管、场效应管、IGBT及各种模块的击穿电压。


4、能够丈量各种巨细功率的压敏电阻、放电管等的击穿电压。


5、能够丈量非电解类小容量电容器的耐压(特别能够丈量4KV以下的小容量高压电容)。


6、一般可控硅测验选用0-4KV等级的仪器已能满足要求,若有其它特别要求能够定制最高达0-12KV的仪器。


。三、首要技术参数:


1、触发电压VGT丈量规模: 0—5V , 精度 ≤2.5%。


2、触发电流IGT 丈量规模: 0—19.99mA ,0—199.9mA , (分两档) 精度 ≤2.5%。


3、可控硅耐压参数测验用高压输出和丈量规模: 0—2KV、 0—4KV ,(分两档) 精度 ≤2.5% 。


4、其它电子原器材耐压测验用高压输出和丈量规模: 0—2KV、 0—4KV 。


该测验仪是我依据几十年丰厚的实践经验自行研讨规划制作,


其特点是:1、实用性强 。2、丈量规模广。3、运用方便。4、选用一种特别的可调恒压限流电源可保证


在测验耐压的过程中不易损坏被测器材。



测验实例



一、平板型大功率可控硅(晶闸管)的测验


二、螺栓型中大功率可控硅(晶闸管)的测验


三、使用塑封管测验架能够丈量从TO-92到TO-3P等各种封装的可控硅


四、塑封中小功率可控硅(晶闸管)的测验


五、可控硅(晶闸管)模块的测验


注:若彻底用于塑封管测验时请挑选KC-2可控硅测验仪


KC-2型可控硅测验仪




MOS-1型功率场效应管测验仪


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