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锂离子电池办理芯片的研讨及其低功耗规划 — 数模混合电路的低功耗规划办法(二)

近年来,锂离子电池以其能量密度高、自放电率低、单节电池电压高等优点,获得了广泛应用,相应的电池管理芯片研究也在不断地完善与发展。其中,为了尽可能保证电池使用的安全性并且延长电池的使用寿命,电池管理芯片

2.2模仿电路的低功耗规划

2.2.1模仿电路低功耗的束缚条件

如前所述,在数字电路低功耗规划中,下降电源电压是等比例下降工艺中最常选用也是最有用的办法。但由于实践体系一般选用通用的数字电路工艺,而数字电路优化功耗的计划并没有考虑到对模仿电路功用的影响。对模仿电路而言,电源电压的下降对动态规模(Dynamic Range,DR)和功耗反而晦气。

1根本束缚条件

模仿信号电路所耗费的功率是为了保持信号能量超越根本的热噪声,到达给定的信噪比(Signal-to-Noise Ratio,SNR)。图2.2.1给出了一个典型的模仿信号处理电路示意图,它可所以一个放大器、滤波器、振荡器等。电路总的功率为

式中,IDD为流过电源电压V DD的电流,VPP是VDD电容C端发生的输出电压峰-峰值,ƒ为频率。

式(2.2.1)可知,当VPP挨近VDD时,功率将有一个最小值。考虑到信噪比表达式

式中,k为玻尔兹曼常数(1.38×10-23J/K),T为绝对温度。由式(2.2.1)和(2.2.2),能够得到

由式(2.2.3)能够看出,在给定的温度下,模仿电路所耗费的功率由电路作业频率(或给定的带宽)、信噪比、电源电压与信号峰-峰值之比所决议。明显,rail-to-rail(即V PP =V DD)电路的功耗最低,为

式(2.2.4)能够看出,在模仿电路中,在信噪比每添加10dB,最小功率的绝对值要增大十倍,而在数字电路中,要完成高信噪比,所献身的功耗远远低于模仿电路。还能够看出,式(2.2.4)标明的模仿电路低功耗根本束缚条件是一个通用方程,它只是给出了功耗与信噪比、速度的联系,而对电压摆幅、电路结构、有源电路发生的噪声没有任何束缚条件。关于给定的精度、增益和线性度,规划者总是期望得到必定的动态规模和速度,明显,只是用式(2.2.4)无法对不同的计划得出有用的比较成果。因而,规划面向使用的低压低功耗模仿电路之前,有必要对实践局限性有较深化的知道,比方噪声和精度。

2实践束缚条件

1)与噪声相关的功耗

依据噪声对模仿体系的功能有极大的影响,功耗优化有必要考虑到电路中器材的噪声。如图2.2.2所示,在低频下,MOS管的噪声模型可分红两个彼此独立的随机噪声:一个是热噪声,可用漏源间的电流源表征,另一个是闪耀(或称1/ƒ)噪声,可用与栅极串联的电压源标明。

界说热噪声的噪声功率谱密度(Power Spectral Density,PSD)为SI,有

式中,GTH表征晶体管热噪声电导,其巨细与MOS管的作业区域有关。一般,可将热噪声电导变换为一个栅极热噪声电阻,即有

式中,gm为器材跨导。

而闪耀噪声的噪声功率谱密度SV,1/ƒ为

式中,ρ在给定的温度下是与工艺相关的常数。

在饱满区,一般可将热噪声和闪耀噪声一致为栅极的总噪声,此刻可用一个与频率有关的噪声电阻界说:

结合式(2.2.6)和(2.2.8)可见,在给定的频率下,当跨导添加时,总输入噪声将下降,此刻总噪声主要由1/ƒ噪声决议;而增大栅极面积时,总输入相关噪声将主要由热噪声组成。

电压信号处理电路中,能够用较常见的运算放大器(OperationalAmplifier,OPA)为例,来评论噪声对电路功耗的影响。图2.2.3给出了具有有源负载的OPA结构,其间,CL为输出端负载电容

OPA的增益带宽(Gain Bandwidth,GBW)为

输入电压的噪声功率谱密度为

式中,NEF代表过剩噪声因子(Noise Excess Factor, NEF),为了下降噪声,输入对的跨导有必要远大于有源负载的跨导,此刻NEF挨近1.使用噪声带宽的办法能够求得输出噪声功率,在跟从器结构中,增益G=1,则输出端的动态规模DR能够标明为

式中,分别为PMOS和NMOS的饱满电压。将式(2.2.9)和(2.2.10)代入,则有

由式(2.2.12)可见,下降电源电压将使输出端的DR急剧下降。当gm =2I/(VGS -VTH)时,由式(2.2.9)和(2.2.12),得

在饱满区,最小的VGS -VTH值为2nUT(其间U T =kT/q为热电压,室温下为26mV,n为亚阈值因子),并且在时,则由式(2.2.13)可得

式(2.2.14)给出了在给定的动态规模、增益和增益带宽条件下,OPA电路所需求的最小的功耗。它给出了一切重要的规划参数间的束缚联系,对电路规划有着重要的指导意义。

2)与精度相关的功耗

模仿电路低功耗规划中,尤其是高速使用场合,有必要要考虑精度。而在速度-功耗-精度的束缚条件中,最重要的是器材参数的失配。处理失配的办法有失调补偿或是自调零(Auto-zero)技能。但这些补偿技能需求校准进程,在校准期间要中止体系的正常作业,将电路模块的失调电压取样后动态地放在存储器中。这将下降电路作业速度、添加额定的芯片面积以供给校准(Calibration)和仿制(replica)电路。在许多高速低功耗电路中,体系一般不允许被中止,或许所需的接连作业时间太长,不能确保失调能及时被纠正。因而,一般以为精度完全是由工艺的匹配功能所决议,典型地,如在高速AD或在DA转换器中,位的精度和晶体管的匹配成正比。

一般,两个抱负晶体管间的失配用两个参数来表征,一个是阈值电压失配V T0≡VT01 -VT02,用标准偏差σVT来标明;另一个是电流增益系数β失配△β/β=(β1 2)/β,用标准偏差σβ来标明。它们遍及满意下式:

式中,AVT0、Aβ是与工艺相关的常数。

当晶体管为电压偏置时,器材的栅压相同而电流是变量;关于具有相同电流偏置的两个器材(如差分对),电压将相关改变。依据独立的失调散布,能够推出这种相关改变的散布:

MOS管作业在强反型时,式(2.2.16)变为

由式(2.2.17)能够看出,当变量为电流时,添加栅驱动电压能够进步精度。

这也证明了在电流形式电路中,为了到达最佳精度,有必要将器材偏置在深饱满区。

与之相反的是,在电压形式电路中,为减小失调电压,有必要尽可能地下降Vov的值(令Vov =VGS-VTH),一般可将此值设置在强反型边际。

式(2.2.17)还能够看出,要进步电路精度,就需求大尺度的器材,但与此同时,电路节点的负载%&&&&&%也添加,为保持给定的速度,就需求更大的功耗。关于单端输入,作业在强反型饱满区的器材,增益带宽由下式决议

关于给定的V ov,界说式(2.2.17)中的电流精度为1/Acurracy2=[σ(△ID)/ID]2,电路所耗费的功率为P=IVDD,则结合式(2.2.18),得到

式(2.2.20)给出的功耗-速度-精度的联系式,它标明在给定的电源电压下,功耗与电路精度的平方成正比,即意味着进步精度和进步速度比较,要支付更大的功耗价值。关于许多愈加杂乱的电路,如电流信号处理电路、差分对和运放等电压信号处理电路,乃至是多级电路中,式(2.2.20)依然适用。

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