基于FPGA芯片EP3C40Q240C8实现多普勒展宽系统的设计-作为一种新兴的核技术, 正电子湮没谱学用于缺陷研究，取得了不少成果。正电子湮没谱学研究空位型缺陷是基于湮没辐射所带出的电子密度和电子动量密度的信息。多普勒展宽谱的低动量部分对应于正电子与传导电子或价电子湮没的动量信息，而高动量部分则主要反映了核心电子的动量分布信息。