使用大功率数字源表构建多源丈量单元体系体系实例

利用测试夹具对封装器件进行测试吉时利8010型大功率器件测试夹具与2651A以及2657A型大功率系统数字源表一起完善了功率半导体器件测试解决方案。图1给出源测量单元(SMU)仪器与8010型夹具的连

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高阻器材低频噪声测验技能与应用研究文献汇总,包含技能理论及解决方案

电子器件或材料按其等效电阻大小可划分为:高阻器件、中阻器件、低阻器件。根据传统噪声测试原理,改进已有噪声测试技术和测试方法还可以继续测量一些等效阻值在该范围之外的器件的噪声,这些器件被定义为低阻器件或

分立电阻器检定测验体系的操作过程

图1是基于2400数字源表的电阻器生产测试系统结构图,该系统用于连续进给电阻器并检定。图1基于2400数字源表的电阻器生产测试系统注意,电阻器置于测试夹具中,夹具与2400型数字源表相连。触发后,24

TSP分布式控制提高了测验速度而且降低了测验本钱

TSP技术通过允许用户使用标准的PC控制或者创建在仪器内的微处理器上执行的嵌入式测试脚本,增强了仪器控制。通过使用TSP测试脚本而非PC用于仪器控制,能够避免PC控制器和仪器之间的通信延迟,这提高了测

OLED显示器的DC出产测验中显示器的测验成果

为了说明实现这一测试方案所达到的结果,我们用四个源表的测试系统对一个48times;64的OLED显示器进行了正向电流、电阻和反向偏置的测量。测量速度被设定为1个NPLC(即,积分时间 = 16.

分立电阻器检定测验体系的IEEE总线操作

分立电阻器检定测验体系的IEEE总线操作

在编写建立和执行公差带测试和电压系数测试程序时,这里有几个常用步骤需要遵守。在进行这些测试时,每个测试点都配置并存储在源存储单元中。源表内存允许存储高达100个完整的测试程序,而且可以利用单一命令通过

OLED显示器的DC出产测验中测验体系的功能

我们曾对采用四个2400的测试系统的测试速度、小电流和小电压测量精度,在一系列不同的测量时间间隔条件下(即不同的NPLC设定参数)进行过特征化测试。NPLC参数与测试时间间隔有如下关系式测试时间间隔(

根据2400系列数字源表构建电阻网络测验体系

根据2400系列数字源表构建电阻网络测验体系

电阻网络生产测试的目的是在生产的各个阶段尽可能快速地检验这些器件的性能,以及它们最终的封装形式。这些测试必须可靠以确保所有装箱的产品都满足制造规范。通常情况下,我们需要对网络中的每个单元进行电阻测量。

电阻网络器材需求各种丈量技能(一)

以下种基本类型的电阻网络器件需要各种测量技术。隔离式与总线式电阻网络隔离式与总线式电阻网络的测试与单个电阻元件的测试比较相似。用户可以使用标准四线开氏连接方法消除引线电阻的影响。2400的检测电路具有

分立电阻器检定测验体系的装备

分立电阻器检定测验体系的装备

分立电阻器在最后的封装状态要进行单点通过/失败测试,这对确保产品符合制造商性能指标至关重要,而且可以在出货前识别劣质电阻器以及轻微不良的电阻器。通常要对电阻器进行两项测试:电阻器电压系数测试以及电阻器

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